双色红外荧光扫描成像系统

Odyssey® CLx Infrared Imaging System

    近红外荧光的波长范围在700-800 nm之间，避开了NC膜、PVDF膜微孔板等耗材的本底信号，提高了检测的信噪比和相对灵敏度。可用于Western Blot、Northern Blot、Southern Blot、In-Cell Western、EMSA荧光发光检测。