双色红外荧光扫描成像系统

发布者:赵林霞发布时间:2019-08-02动态浏览次数:107

Odyssey® CLx Infrared Imaging System

    近红外荧光的波长范围在700-800 nm之间,避开了NC膜、PVDF膜微孔板等耗材的本底信号,提高了检测的信噪比和相对灵敏度。可用于Western BlotNorthern BlotSouthern BlotIn-Cell WesternEMSA荧光发光检测。